LUYOR-3325G便携式黄绿光表面检查灯用于晶圆表面质量检

LUYOR-3325G便携式黄绿光表面检查灯用于晶圆表面质量检
LUYOR-3325G表面检查灯

便携式黄绿光表面检查灯LUYOR-3325G-用于晶圆表面质量检测
便携式黄绿光表面检查灯LUYOR-3325G采用了36w的高功率led作为光源，能够发出570-580nm的黄绿光，光斑均匀，产品轻便，可以手持着检查产品表面的颗粒物、划痕、手印等产品缺陷，也可以配合台式支架作为台式表面检查灯进行长时间检查。

坚固耐用、维护成本低的便携式黄绿光表面检查灯LUYOR-3325G进行光学晶圆检测，与 100 瓦高压汞灯相比，具有以下优势：
1.轻便：没有繁重电源箱，手持操作，方便快捷。
2.省时：即可即用，无需等待。
3.经济：光源寿命长达50000小时，无须频繁更换灯泡。
4.光斑均匀，检查效率高，减少漏检。
5.安全：长时间运行，不发烫，没有烫伤危险。
6.高效：led光源，发光效率高，节省能源。
7.光谱纯正：不会产生紫外线。

哪些类型的晶圆可以用黄绿光表面检查灯LUYOR-3325G检查？
半导体和芯片制造中的晶圆检测
太阳能行业和光伏发电的晶圆测试
所有晶圆尺寸的视觉晶圆表面测试：25mm（1英寸）、38mm（1.5英寸）、51mm（2英寸）、75mm（3英寸）、100mm（4英寸）、125mm（5英寸）、150mm（6英寸）、200mm（8英寸）、300mm（12英寸）、450mm（18英寸）
外延晶圆的检测
单晶硅片和多晶晶片的光学测试
硅片表面的目视测试
也可以检查方形晶圆
原晶圆和结构化晶圆的测试
外延晶圆（EPI晶圆）和SOI晶圆表面分析
用黄光灯测试金晶圆
使用紫外灯目视检查晶体硅片
所有材料晶圆的光学表面检测：硅、锗、碳化硅、砷化镓、蓝宝石、玻璃等。
SEMI标准晶圆的目视检测
键合晶圆、胶带晶圆的质量检查
视觉晶圆检测也适用于裸晶圆、薄晶圆和扇出晶圆
强曲面晶圆（eLWB等）的光学质量控制和检测等。

颗粒检测-减少晶圆生产/半导体生产中的污染
除了晶圆检测过程中的目视表面检测，即通过黄光灯或绿光灯进行部分自动化的晶圆检测外，许多半导体制造商还有进一步的要求：
使用测试灯检查系统中的颗粒污染
使用黄光表面检查灯或UV-LED紫外线灯进行粒子检测
晶圆生产过程中洁净室中质量控制的颗粒检查
搜索并查找用于清洁半导体生产中机器的颗粒
在持续的质量控制过程中清洁和保持生产设备的清洁
在大多数情况下，颗粒检测只能通过人工检查进行，因此可以使用便携式表面检查灯、绿灯或紫外线灯进行检查。